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半導體封裝與測試工程─CMOS影像感測器實務

出版日期
2007
閱讀格式
PDF
書籍分類
學科分類
ISBN
9789572154304

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  • 1章半導體封裝基本知識及CMOS 影像感測器發展歷史
    • 1-0 定義半導體
    • 1-1 何謂半導體封裝?
    • 1-2 現今半導體封裝業界與影像感測器趨勢
    • 1-3 何謂半導體影像感測器?(CMOS IMAGE SENSOR)
    • 1-4 半導體影像感測器演變歷程
    • 1-5 CMOS 感測元件應用及市場規模預估
  • 2章半導體影像感測器封裝流程
    • 2-1 CMOS 光學影像處理流程圖示
    • 2-2 CMOS 影像光感應圖示
    • 2-3 半導體影像感測器一一晶片製造流程
  • 3章半導體影像感測器基本結構
    • 3-1 半導體影像感測器構裝數位科技體系
    • 3-2 半導體影像感測器構裝技術層次及功能
    • 3-3 半導體影像感測器封裝體種類
    • 3-4 CMOS 影像感測器模組結構設計
  • 4章半導體影像感測器封裝材料簡介
    • 4-1 封裝材料簡介
    • 4-2 高分子封裝材料的性質
    • 4-3 金屬導線架l高分子基板之受力
  • 5章半導體影像感測器封裝製程介紹(半自動)
    • 5-1 CMOS 封裝製程設備簡介(半自動)
    • 5-2 前段製程(1)
    • 5-3 前段製程(2)
    • 5-4 後段製程
  • 6章半導體影像感測器封裝製程介紹(全自動)
    • 6-1 CMOS 封裝製程簡介(全自動)
    • 6-2 前段製程(1)(2)
    • 6-3 前段製程(3)(4)
  • 7章半導體影像感測器封裝可靠性及信賴度簡介
    • 7-1 結構可靠性基本概念
    • 7-2 可靠性及信賴度測試種類
    • 7-3 可靠性試驗項目
    • 7-4 可靠性及信賴度失效分析實例
    • 7-5 封裝散熱分析
  • 8章理論材料學失效界面分析與設計
    • 8-1 材料微結構鐘結
    • 8-2 材料界面能量與分子結合
    • 8-3 界面原子流動與熱能量設計
    • 8-4 材料封裝界面現象
  • 9章測試概論
    • 9-1 封裝最終測試作業
    • 9-2 測試與憤驗技術
    • 9-3 CMOS 邏輯IC 最終測試類型及方法實例
  • 10章新熱門製程技術
    • 10-1 LCOS 基本概念
    • 10-2 LCOS 投影機的歷史沿革
    • 10-3 新複合製程技術
  • 11章半導體影像感測器相關技術名詞解釋
  • 附錄常見CMOS 影像感測器各封裝製程缺陷模式

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