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這是一本藝術品與文化遺產研究通用技術彙編,書中介紹了50種該領域常用的科學技術,以精煉的文字介紹了它們的基本原理、應用方法、局限性和發展歷史。 《藝術品檢測分析技術手冊》也是一本為方便相關領域人士理解這些技術而編寫的實用類書籍。
- 封面页
- 书名页
- 版权页
- 编委与撰稿人
- 序言
- 前言
- 目录
- 昼光照相术
- 紫外(UV)照相术
- 红外(IR)照相术
- 红外反射成像(IRR)
- 红外假彩色照相术(IRFC)
- 红外透射照相术(IRT)
- 紫外诱导红外荧光成像
- 光纤反射光谱法(FORS)
- X射线照相术
- K-edge成像
- 同步辐射X射线荧光(sXRF)成像
- 光学相干层析术(OCT)
- X射线吸收近边结构谱法(XANES)
- 扫描X射线粉末衍射(XRPD)
- 差式扫描量热法(DSC)
- 中子活化放射自显影(NAA)
- 中子射线照相术(NR)
- 中子成像(Nl)
- 拉曼(Raman)光谱法
- 傅里叶变换红外光谱法(FTIR)
- 同步辐射傅里叶变换红外光谱法z(SR-FTIR)
- 扫描电子显微镜(SEM)结合能量色散X射线光谱法(EDS/EDX)
- 实验室微X射线衍射(XRD)
- 表面增强拉曼光谱法(SERS)
- 宏观X射线荧光成像(MA-XRF)
- 便携式X射线荧光(pXRF)斑点分析
- 共聚焦X射线荧光法(cXRF)
- 质子X射线荧光分析(PIXE)
- 微取样
- 光学显微镜(OM)法
- 原子力显微镜(AFM)法
- 紫外/可见光(UV/VIS)断面显微镜法
- 断面染色试验显微分析
- 免疫试验法
- X射线光电子能谱法(XPS)
- 二次离子质谱法(SIMS)
- 气相色谱-质谱法(GC-MS)
- 裂解气相色谱-质谱法(Py-GC/MS)
- 电喷雾电离质谱法(ESI-MS)
- 直接温度质谱法(DTMS)
- 热重质谱法(TGMS/TGA-MS)
- 激光烧蚀电感耦合等离子体质谱法(LA-ICP-MS)
- 基质辅助激光解吸电离质谱法(MALDI MS)
- 电化学分析法
- 铅同位素分析
- 太赫兹(THz)光谱法与成像
- 画布经纬密度法
- 放射性碳定年法
- ~(14)C核弹峰值放射性碳定年法
- 树木年代学法
- 作者简介
- 译者后记
- 出版地 : 中國大陸
- 語言 : 簡體中文
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